大型中高端工業(yè)芯片需要高效全面的測試來保證高質(zhì)量的芯片產(chǎn)品，特別是高端的車規(guī)芯片更是需要零瑕疵的電子元器件，相同的要求同樣應(yīng)用在其它生命攸關(guān)的產(chǎn)品中。為達(dá)到這樣高端的要求，測試設(shè)計被DFT工程師引入到芯片設(shè)計中，從而可以產(chǎn)生相應(yīng)的測試向量來高效地測試芯片。