5月24日，第26屆集成電路制造年會(huì)暨供應(yīng)鏈創(chuàng)新發(fā)展大會(huì)（CICD）在廣州黃埔區(qū)知識(shí)城國(guó)際會(huì)展中心圓滿落幕。本屆大會(huì)以“助力產(chǎn)業(yè)路徑創(chuàng)新 共建自主產(chǎn)業(yè)生態(tài)”為主題，匯聚了全球集成電路領(lǐng)域的頂尖專家和領(lǐng)軍企業(yè)。

國(guó)微芯作為知名的國(guó)產(chǎn)EDA企業(yè)，受邀深度參與本次活動(dòng)。國(guó)微芯執(zhí)行總裁兼首席技術(shù)官白耿博士在高峰論壇作了重要演講。此外，國(guó)微芯研發(fā)總監(jiān)王禹在IC設(shè)計(jì)與制造協(xié)同分論壇進(jìn)行了技術(shù)分享，共同探討行業(yè)前沿技術(shù)，推動(dòng)產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展。

大咖演講 精彩回顧

在主論壇演講環(huán)節(jié)，白耿博士以《EDA技術(shù)創(chuàng)新，推動(dòng)新一代IC設(shè)計(jì)制造的發(fā)展》為主題，分享了他關(guān)于如何通過(guò)技術(shù)創(chuàng)新來(lái)提高數(shù)據(jù)完整性、加速設(shè)計(jì)和制造流程的見(jiàn)解。

在IC設(shè)計(jì)與制造協(xié)同論壇上，國(guó)微芯研發(fā)總監(jiān)王禹發(fā)表了題為《國(guó)微芯可靠性設(shè)計(jì)平臺(tái)在IC設(shè)計(jì)與制造協(xié)同中的應(yīng)用》的演講，從芯片老化效應(yīng)的角度提出了EDA解決方案。

他提出，先進(jìn)工藝數(shù)字電路設(shè)計(jì)越來(lái)越受到工藝擾動(dòng)、老化等可靠性因素制約，給芯片設(shè)計(jì)人員提出了新的挑戰(zhàn)。國(guó)微芯可靠性全流程平臺(tái)可以提供從SPICE仿真到K庫(kù)到時(shí)序分析的全套工具，協(xié)助數(shù)字設(shè)計(jì)工程師更好的掌控工藝及設(shè)計(jì)的平衡。

產(chǎn)品展示 交流分享

作為深耕國(guó)產(chǎn)數(shù)字芯片全流程的EDA 創(chuàng)新企業(yè)，國(guó)微芯數(shù)款數(shù)字EDA工具，亮相大會(huì)展臺(tái)。眾多業(yè)界專業(yè)人士及合作伙伴紛至踏來(lái)，到展臺(tái)與國(guó)微芯現(xiàn)場(chǎng)工作人員進(jìn)行深度交流，并高度認(rèn)可國(guó)微芯系列產(chǎn)品與技術(shù)。

在此次盛會(huì)中，集成電路行業(yè)的領(lǐng)軍企業(yè)和專家們齊聚一堂，共同探討技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)發(fā)展的未來(lái)之路。本次盛會(huì)必將激發(fā)更多創(chuàng)新思路和與合作機(jī)會(huì)，推動(dòng)集成電路產(chǎn)業(yè)邁向更加繁榮和可持續(xù)發(fā)展的新篇章。國(guó)微芯秉承初心，將持續(xù)為行業(yè)發(fā)展貢獻(xiàn)力量，不斷推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)進(jìn)步！